高反映温度对于五氟化溴法氧同位素组成测定的影响（三）

2.2高反映温度对于氧同位素组成的高反影响

规范物资GBW04409在区别反映温度下的氧同位素组成变换见图2（a）。从图中可能看出，映温于氟影响当反映温度在550～675℃区间内，度对定规范物资GBW04409经氟化反映监禁出O2的化溴δ18OV-SMOW测定值扩散畛域较为晃动，主要会集在10.4‰～11.8‰，法氧平均值为11.12‰±0.38‰（n=90，同位剔除了1个颇为值），素组挨近推荐值（11.11‰±0.06‰），成测精确度相对于较好；当温度高于700℃日后，高反δ18OV-SMOW变换畛域清晰增大，映温于氟影响扩散在10.8‰～26.8‰畛域，度对定平均值为19.07‰±4.93‰（n=19），化溴产生清晰正偏差，法氧远离规范物资推荐值，同位合乐成果精确度较差。素组每一件规范物资GBW04409在区别反映温度下测定的O2产率与同位素组成对于应关连见图2，可能看出，产率与氧同位素值具备很好对于应性，产率变换在事实合计值的2%畛域内，可取患上比照精确的氧同位素服从；产率变换超过事实合计值的2%畛域后，氧同位素合乐成果精确度较差。

在较高的反映温度条件下，导致O2产率清晰偏低主要有如下多少种可能：①在高温情景下，镍反映器内的BrF5以及反映天生的O2及其余副产物如BrF三、SiF4都以气态方式存在，具备较高的外全副压，对于反映器的密封功能有更高要求，若密封功能变差，可能引起O2及其余副产物向外监禁；②氟化反映所监禁的O2与其余物资在高温条件下发生化学反映，天生为了氧化物；③矿物内的氧未被监禁残缺，即反映不残缺、不残缺。

在制样装置中，镍反映器在金属螺母动员下经由挤压聚四氟乙烯垫圈接入制样系统并实现真空密封，金属螺母外部套上恒温冷却循环水对于密封垫圈妨碍呵护。冷却循环水系统控温精度为±0.5℃，在妨碍高温氟化反映时设定冷却循环水温度为23℃，此温度远低于聚四氟乙烯垫圈耐受温度（250℃），因此，在反映历程中造成镍反映器内气体向外逸散的可能性极低，可能翦灭上述导致O2产率清晰变低的第①种可能。

BrF5具备极强的氧化性，高温下简直能与所有含氧矿物妨碍反映。在妨碍岩石或者矿物BrF5法氧同位素样品制备历程中，个别按反映所需5倍的BrF5量加注。因此，在高温氟化反映历程中所监禁的O2在过多BrF5情景下天生其余氧化物是不可能的，可能翦灭上述导致O2产率清晰变低的第②种可能。

翦灭上述导致O2产率清晰偏低的第①、②种可能，需要对于第③种可能妨碍试验合成，提供试验依据判断泛起产率偏低的原因，便于建树岩石或者矿物BrF5氧同位素组成合成方式的反映温度条件。

2.3分次氟化反映对于氧同位素组成的影响

经由高温氟化反映试验发现，每一个镍反映器内的规范物资在妨碍氧同位素样品制备历程中，氟化反映所监禁的O2与运用线性关连式（P=107.38*m，关连系数R2=0.9857）合计的气体压细小多相差多少十甚至多少百帕。实际监禁的O2与按线性方程合计的压强相差越大，δ18OV-SMOW值越偏正。对于产率缺少的镍反映器在不装填样品的状态下妨碍二次氟化反映，服从发现仍有O2监禁，而且所监禁的O2与第一次氟化反映按线性方程合计相差的O2气体量十分挨近。对于第二次氟化产生的O2妨碍收集测定其氧同位素组成，其δ18OV-SMOW值清晰偏负。上述试验服从表明：在较高的反映温度（高于700℃）条件下，纵然按试样残缺反映所需5倍的BrF5量加注，依然会泛起试样氟化反映不残缺状态，造成O2产率偏低，从而引起氧同位素分馏，而且δ18OV-SMOW值产生正偏差，可能在高温氟化反映中开始监禁出的O2更富集18O；未反映残缺的试样相干于全副试样曾经相对于较少，第二次氟化反映历程中仍按全副试样残缺反映所需5倍的BrF5量加注，确保残余试样可能反映残缺，因为在第一次氟化反映中所监禁的O2更富集18O，残余试样中的氧应盈利18O，与实际测试的δ18OV-SMOW服从偏负适宜。

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